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Nanolog 模塊化科研級(jí)穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀 我們的模塊化科研級(jí)Nanolog穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀是專門為納米技術(shù)和納米材料的研究而設(shè)計(jì)的。Nanolog?系列熒光光譜儀是專門為納米技術(shù)和納米材料等前沿研究而設(shè)計(jì)的。可實(shí)現(xiàn)幾毫秒內(nèi)獲得完整光譜，幾秒內(nèi)獲得而完整的激發(fā)發(fā)射三維矩陣。
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PPD 光子計(jì)數(shù)檢測(cè)器 具有皮秒級(jí)精度的單光子檢測(cè)器 使皮秒級(jí)光子檢測(cè)變得更容易。PPD系列是一系列小型化的單光子計(jì)數(shù)檢測(cè)器，包含所有必要的電子器件，可以實(shí)現(xiàn)皮秒精度檢測(cè)單光子。事業(yè)部:科學(xué)儀器產(chǎn)品分類:熒光光譜儀制造商:HORIBA Scientific概要：每個(gè)模塊都包含一個(gè)具有快速上升時(shí)間的光電倍增管（PMT）、GHz前置放大器、恒定分?jǐn)?shù)鑒別器（CFD）、穩(wěn)壓
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SpectraLED LED磷光光源 創(chuàng)新型高性價(jià)比LED脈沖光源，適用于測(cè)量從深紫外到近紅外的磷光SpectraLED是一種專為測(cè)量磷光壽命而設(shè)計(jì)的新型光源，這種磷光光源基于 LED技術(shù)，發(fā)射波長(zhǎng)覆蓋深紫外到近紅外光譜范圍
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混合皮秒光子檢測(cè)器（HPPD）系列 HPPD是我們?cè)赥CSPC檢測(cè)器技術(shù)方面的最新發(fā)展，它結(jié)合了傳統(tǒng)PMT設(shè)計(jì)的優(yōu)點(diǎn)（寬光譜響應(yīng)和大活性面積）與固態(tài)APD技術(shù)的優(yōu)勢(shì)（良好的檢測(cè)效率、可忽略的后脈沖和卓越的時(shí)間分辨率）。混合檢測(cè)器正在成為FLIM和短壽命測(cè)定的首選。
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Ultima 超快時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)熒光壽命測(cè)試系統(tǒng) TCSPC熒光壽命測(cè)試系統(tǒng)，用于測(cè)量低至5皮秒的熒光壽命Ultima系列時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)(TCSPC)熒光壽命測(cè)試系統(tǒng)，針對(duì)短發(fā)光壽命的測(cè)試而優(yōu)化設(shè)計(jì)，可測(cè)量低至5皮秒的壽命。專用FluoroHub A+電子設(shè)備，提供最佳的電子計(jì)時(shí)單元分辨（<400fs/點(diǎn)）和超低電子計(jì)時(shí)單元抖動(dòng)（<3ps RMS）。
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Partica LA-960V2 激光粒度分析儀 LA-960V2 秉承 HORIBA 一貫的優(yōu)異設(shè)計(jì)引領(lǐng)行業(yè)方向。其直觀的軟件、特有的附件和優(yōu)異的性能將科學(xué)認(rèn)知推向未知世界，是LA系列儀器的突破性演變。事業(yè)部:科學(xué)儀器產(chǎn)品分類:顆粒表征制造商:HORIBA, Ltd.
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Partica mini LA-350 激光粒度分析儀 HORIBA Partica mini LA-350激光粒度分析儀是一款性能高、價(jià)格低、體積小巧的粒徑分析儀器。LA-350廣泛應(yīng)用于漿料、礦物和造紙行業(yè)等多種領(lǐng)域。基于LA系列分析儀的先進(jìn)光學(xué)設(shè)計(jì)，LA-350實(shí)現(xiàn)了高性能、易操作、低維護(hù)和高效益的優(yōu)點(diǎn)。LA-350體積小巧(297 mm x 420 mm)，可以有效節(jié)省實(shí)驗(yàn)室空間。除此之外，LA-350巧妙的設(shè)計(jì)、高質(zhì)量
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ViewSizer 3000 多激光納米顆粒追蹤分析儀 (NTA) 采用多波長(zhǎng)激光對(duì)外泌體、病毒等納米材料樣品中的所有顆粒進(jìn)行完整、詳細(xì)的分析。外泌體、病毒和納米顆粒都具有較寬的粒徑分布，這使得傳統(tǒng)的納米顆粒追蹤分析 (NTA)儀無(wú)法準(zhǔn)確測(cè)量它們的粒徑分布。ViewSizer 3000的三個(gè)激光器可同時(shí)工作，可在同一樣品中收集各種尺寸的最準(zhǔn)確的分布和濃度信息。
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nanoPartica SZ-100V2 納米粒度及Zeta電位分析儀 納米粒度及Zeta電位分析儀先進(jìn)的分析儀器助您解開納米世界的奧秘。只需單臺(tái)設(shè)備就能表征納米顆粒的三個(gè)參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。納米技術(shù)的研發(fā)是一個(gè)持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質(zhì)的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。
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Partica CENTRIFUGE CN-300離心式粒度分析儀 通過離心進(jìn)行高分辨率粒度分布測(cè)量。CN-300 的測(cè)量范圍為 10 nm - 40 μm，可施加高達(dá) 30,000g 的離心力，并使用溫度控制為各種樣品產(chǎn)生準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。根據(jù)客戶反饋開發(fā)并改進(jìn)現(xiàn)有和新的 HORIBA 技術(shù)，其結(jié)果是提供安全可靠的操作，同時(shí)也易于使用的分析儀。
