兼具高性能和靈活性的熒光壽命測試系統,可利用時間相關單光子技術(TCSPC)測試方法,快速有效地采集熒光壽命數據
DeltaFlex 全自動模塊化熒光壽命光譜儀是我們的Delta系列新一代時間相關單光子計數熒光壽命測試儀器之一,其可提供最大的靈活性。
該系統可實現跨越11個數量級的發光壽命測試,且無需更換線纜或板卡。其核心是DeltaHub電子計時設備,它提供幾乎無損的計數,能夠實現從25ps到1s時間范圍的壽命測試。DeltaFlex由HORIBA高脈沖頻率光源、高靈敏度探測器及超低死時間的電子計時單元組成,能夠快速、高效地采集熒光壽命數據。
全新的F-Link總線設計使得模塊化簡單易行,系統能夠自動檢測到添加到儀器中的任意組件,并且可以實現控制軟件自動控制。
隨著生物探針和光伏等應用領域逐漸擴展到近紅外區域,因此實現近紅外區域的時間分辨測試非常重要。DeltaFlex可與多種近紅外探測器結合,為近紅外時間分辨測試提供解決方案。
DeltaFlex系統由可替換的DeltaDiode激發光源、DeltaHub電子計時單元和PPD皮秒檢測器組成。可通過增加激發和發射單色儀實現波長選擇,從而可實現時間分辨熒光光譜(TRES)等的全光譜壽命采集。TDM-800 單色儀可提供低時間色散。系統配備帶有數字溫度傳感器和磁力攪拌器的樣品架。
我們還提供DeltaDiode短壽命測試光源,SpectraLED長壽命測試脈沖光源、單色儀和珀耳帖溫度控制等眾多附件。DeltaFlex可以通過F-Link光譜儀總線輕松升級以及自動控制等。
下面視頻中顯示的是配有H10330系列檢測器和SpectraLED 脈沖激發光源的DeltaFlex-NIR-H光學系統。
光譜儀 - DeltaDiode 脈沖光源視頻 (1:03)
概要:
高脈沖頻率激光光源和PPD檢測器可實現低至25ps的熒光壽命測量
每秒高達1000次的時間相關單光子計數(TCSPC)測量技術,非常適合動力學研究
搭配單色儀實現波長選擇
覆蓋紫外到近紅外波長范圍的DeltaDiodes脈沖激發光源可供選擇。有關完整詳細信息請參閱 DeltaDiode頁面
SpectraLED光源可用于獲取更長的發光壽命(微秒到秒),且提供紫外到近紅外波長范圍光源選擇
可升級到基于單色儀的NIR系統(DeltaFlex-NIR-H或DeltaFlex-NIR-R)
通過F-Link模塊輕松添加附件
綜合軟件包
測量模式
熒光壽命25ps到1s
動態時間相關單光子計數(TCSPC)方法,可連續測量1毫秒內1~10000次衰減,直到1 分鐘內1次衰減。
各向異性測試, 解卷積以分辨更短的旋轉相關時間
時間分辨發射光譜 (TRES),可一次采集多達100個波長的壽命衰減曲線
穩態光譜測量
配置:
DeltaFlex 系統
最短熒光壽命 | 25ps,使用半導體脈沖激光光源* |
最短測量時間 | 1 毫秒* |
脈沖頻率 | 10kHz - 100MHz(使用DeltaDiode光源) 0.1Hz - 10kHz(使用SpectraLED光源) |
光源控制盒 | DeltaDiode和SpectraLED |
時間半高寬 | <200ps(使用PPD/TBX和半導體脈沖激光光源) |
死時間 | 10ns |
時間范圍 | 10ns - 11s |
波長選擇 |
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探測器響應 |
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PC 接口 | USB 2.0.接口,不包含PC機,需要Windows XP或Windows 7, 32/64位英文版 |
系統占地面積 | 75cm x 55cm,不含PC機 |
**使用DeltaDiode光源和PPD探測器,不適用線纜
DeltaFlex-NIR升級系統
系統型號 | DeltaFlex | DeltaFlex-NIR-H | DeltaFlex-NIR-R |
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可測量壽命范圍* | 25ps 至1s | 100ps 至 1s | 300ps 至 1s |
接口 | USB | USB | USB |
探測器覆蓋波長范圍 | 250-650nm (250-850nm或300-900nm可選) | 950-1400nm或950-1700nm可選 | 300-1400nm或 300-1700nm可選 |
* 依賴于樣品和系統配置
參數和外觀改變無需另行通知
產品應用: