我們提供節(jié)省時(shí)間的成像解決方案，幫助材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室技術(shù)人員精確測量、分析和改進(jìn)他們開發(fā)的重要材料。
日常材料的質(zhì)量和耐用性可以為一個(gè)更清潔、更可持續(xù)的世界做出貢獻(xiàn)。無論是使用數(shù)碼相機(jī)，光學(xué)顯微鏡，SEM還是TEM, Image-Pro都簡化了捕獲，測量和分析，因此您可以減少對工具的關(guān)注，更多地關(guān)注改善我們周圍的材料。
我們軟件在材料圖像分析的應(yīng)用 ：
陶瓷，復(fù)合材料和塑料圖像分析： 無論是使用光學(xué)還是電子顯微鏡成像系統(tǒng)，Image-Pro都提供直觀的工作流程和協(xié)議開發(fā)，以一致地測量陶瓷顆粒或其他類似材料。
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食品檢測分析 無論是對來料進(jìn)行質(zhì)量保證，優(yōu)化工藝，還是分析最終產(chǎn)品。image - pro為使用圖像處理的食品圖像分析和食品檢測提供了一系列解決方案。這將有助于食品制造和生產(chǎn)行業(yè)。 計(jì)數(shù)，測量大小，并接收有關(guān)分析顆粒的 |  |
冶金圖像分析 顆粒分析，無論是用于制造材料還是量化潛在污染，都需要一種稱為智能分割的復(fù)雜機(jī)器學(xué)習(xí)分割技術(shù)。智能分割允許您在各種困難的成像環(huán)境中可靠地找到和量化顆粒。 一旦測量了顆粒，就可以報(bào)告額外的分布分析或顆粒分類 |
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多孔材料分析 尋找玻璃中的缺陷或分析生物膜是image - pro支持的各種圖像分析應(yīng)用程序之一。 例如，Image-Pro允許快速確定涂層的厚度，允許軟件測量涂層厚度的平均值，最大值，最小值和標(biāo)準(zhǔn)偏差。 |  |
產(chǎn)品玻璃，薄膜和涂料分析 使用FIB-SEM成像的NAND閃存塊前后圖像堆棧對齊。 在某些情況下，在進(jìn)行3D體渲染和分析之前，必須正確對齊3D圖像堆棧。如果圖像平面不對齊，關(guān)鍵尺寸分析可能會(huì)產(chǎn)生不正確的結(jié)果。image - pro包括特定的圖像堆棧對齊方法來正確對齊圖像堆棧。 |  |
新材料分析 材料分析對于研究人員分析材料的大小、形狀和構(gòu)象是一個(gè)特別具有挑戰(zhàn)性的問題，特別是當(dāng)需要分析材料超越單一視野或整體時(shí)。 使用image - pro可選的2D捕獲模塊，多個(gè)視場可以在實(shí)時(shí)視圖中自動(dòng)拼接在一起，提供比視場校準(zhǔn)圖像更大的圖像-然后可以通過我們的材料分析軟件進(jìn)行分析。 對于采集后的平鋪和歸一化，一個(gè)復(fù)雜的工具是可用的，不僅從大掃描縫合圖像在一起，而且還提供了不均勻的陰影的兩道校正 |  |
纖維分析 碳，天然或合成纖維用于各種制成品和工業(yè)。 將光纖分離和光纖厚度協(xié)議添加到您的配置中，以便快速測量光纖的長度和厚度-即使光纖重疊也可以 |  |
